Фотоэлектрический рефрактометр
1. ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ РЕФРАК .ТОМЕТР, содержащий последовательно чустановленные излучающий параллельный пучок света, осветитель, фокусирующую систему, фокальная плоскость которой совпадает с поверхностью измерения. и приемную систему, отличающийся тем, что, оптические оси осветителя, фокусирующей системы и приемной системы расположены параллельно , причем осветитель установлен с возможностью перемещения перпендикулярно его оптической оси в плоскости, образуемой оптическими осями осветителя и фокусирующей системы. 2.. Рефрактометр по п. 1, о т л ичающий ся тем, что опт11ческие оси осветителя, фокусирующей системы и приемной .системы расположены в одной плоскости. 3. Рефрактометр по п. 1, о т л ичающийся тем, что фокусирую (Л щая система состоит из последовательно расположенных асферической линзы и полусферы, основание которой совпадает с поверхностью измерения. В Г 1
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
034МЛЮ
РЕСПУБЛИК
SU„„101 1
ym Ь 01 N 21/43
ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР
ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ
К ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ
©ие.f (89) 145481 ГДР (21) 7770965/18-25 (22) 05.12.79 (31) 1МР 6 01 и /210373 (32) 08.01.79 (33) ГДР (46) 07.07.84. Бюл. М- 25 (72) Петер Эйзенхут (ГДР) (71) ФЕБ Карл Цейсс Йена (ГДР) (53) 535.242(088.8) (56) 1. Харрик Н. Спектроскопия внут- реннего отражения. M. "Мир", 1970, с. 305.
2. Патент США N - 3999857, кл. 356-133, 1975. (54)(57) 1 ° ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ РЕФРАКТ0МЕТР содержащий последовательно ,установленные излучающий параллельный пучок света, осветитель, фокусирующую
: систему, фокальная плоскость которой совпадает с поверхностью измерения, и приемную систему, о т л и ч а ю— шийся тем, что, оптические оси осветителя, фокусирующей системы и приемной системы расположены параллельно, причем осветитель установлен с возможностью перемещения перпендикулярно его оптической оси в плоскости, образуемой оптическими осями осветителя и фокусирующей системы.
2,. Рефрактометр по п. 1, о т л ич а ю шийся тем, что оптические оси осветителя, фокусирующей системы и приемной системы расположены в одной плоскости.
Ф
3. Рефрактометр по п. 1, о т л и- Е ч а ю шийся тем, что фокусирую- уу щая система состоит из последователь- %Ф Ф но расположенных асферической линзы и полусферы, основание которой совФ\ падает с поверхностью измерения.
1 1 l01
Изобретение относится к устройству для автоматического измерения показателя преломления, преимущественно жидких сред, по принципу полного внутреннего отражения. 5
Известен фотоэлектрический рефрактометр, содержащий осветитель, рабочий элемент и приемную систему (1). ,Недостатком этого устройства является низкая точность. 10
Наиболее близким к изобретению по технической сущности является фотоэлектрический рефрактометр, содержащий последовательно установленные излучающий параллельный пучок света, осветитель, фокусирующую систему, фокальная плоскость которой совпадает с поверхностью измерения, и приемную систему (21.
Недостатками известного устройст- 20 ва является сложность его изготовления и высокая стоимость, а также низкая точность, обусловленная зависимостью пути света от показателя преломления. ° 25
Целью изобретения является устранение указанных недостатков.
Для достижения указанной цели в фотоэлектрическом рефрактометре, со- З0 держащем последовательно установленные излучающий параллельный пучок света, осветитель, фокусирующую систему, фокальная плоскость которой совпадает с поверхностью измерения, и при- 35 емную систему, оптические оси осветителя, фокусирующей системы и приемной системы расположены параллельно, причем осветитель установлен с ъозможностью перемещения перпендикуляр- .40 но его оптической оси в плоскости, образуемой оптическими осями осветителя и фокусирующей системы.
При этом оптические оси осветителя, фокусирующей системы и приемной 4> системы могут быть расположены в одной плоскости, а фокусирующая система может состоять из последовательно расположенных асферической линзы и полусферы, основание которой совпадает с поверхностью измерения.
На фиг. 1 показана схема устройства, на фиг. 2 и 3 — варианты его выполнения.
721 ъ
Фотоэлектрический рефрактометр со держит (фиг. 1) осветитель 1 с источником 2 света и коллиматором 3 с оптической осью 01-01, приемную систему
4 с оптической осью 02-02, которая состоит из фотоприемника 5 и конденсатора 6, фокусирующую систему 7 с плоской поверхностью 8 измерения.
Осветитель 1 формирует параллельный пучок света 9.
Осветитель 1 имеет возможность перемещения в направлении, обозначенном стрелкой 10. Он может быть выполнен в виде источника света и диафрагмы 11 (фиг. 2).
Смещение пучка 12 может быть осуществлено плоскопараллельной пластиной 13, имеющей возможность поворота вокруг оси Х-Х. Фокусирующая оптическая система l4 может состоять из асферической линзы 15 и полусферы 16 с поверхностью 17 измерения.
Осветитель 1 и приемная система
4 могут быть расположены на одной оси (фиг. 3). В этом случае устройст-, во включает призму 18 с отражающими поверхностями 19 и 20, фокусирующую систему 21 в виде усеченного параболоида вращения с поверхностью 22 измерения. Призма 18 имеет возможность перемещения в плоскости чертежа в направлении, указанном- стрелкой 23 для смещения пучка 24.
Устройство работает следующим образом.
Параллельный световой пучок 9, сформированный осветителем 1 и фокусирующей системой 7, фокусируется на поверхности 8 измерения, отражается от нее.и, проходя после отражения через фокусирующую систему 7 и конденсатор 6, собирается на одном и том же месте фотоприемника 5. Для согласования с углом полного внутреннего отражения, осветитель перемещается в направлении стрелки 10.
Варианты устройства (фиг. 2 и 3) работают аналогично, причем согласование угла падения света на поверхность измерения с углом полного внутреннего отражения осуществляется пучком поворота плоскопараллельной пластины 13 (фиг. 2) либо перемещением призмы 18 (фиг. 3).
1101721
Х-Х
Заказ 4756/28
Тираж 823 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4
Составитель С.Бочинский
Редактор В.Иванова Техред Л. Коцюбняк Корректор А. Ильин


