Устройство для определения состава показателей качества информационных систем

Авторы патента:

7 G06F19/00 -

 

Полезная модель относится к области обработки данных для специальных применений, в частности, для моделирования и исследования процесса определения состава показателей качества информационных систем. Устройство содержит два блока обработки данных, блок управления, блок памяти результатов измерений, регистр памяти результатов измерений, регистр памяти нормированных значений признаков и регистр памяти обобщенных признаков. Требуемый технический результат, связанный с расширением функциональных возможностей, достигается путем обеспечения моделирование и исследование процесса определения состава обобщенных показателей качества информационных систем.

Полезная модель относится к области обработки данных для специальных применений, в частности, для моделирования и исследования процесса определения состава показателей качества информационных систем.

Известно устройство, содержащее блоки двух типов, локальные контроллеры, соединенные с этими устройствами, центральный контроллер и устройство выдачи карточек [Патент США №5225977, кл. G 06 F 15/30].

Недостатком устройства является относительно узкие функциональные возможности.

Наиболее близким по технической сущности к предложенному является система обработки информации, содержащая устройство обработки информации, содержащее элементы идентифицирующей информации, средство вывода идентифицирующей информации, средство сравнения, средство избирательного приема, а также первое и второе средство обработки данных с соответствующими связями [RU, 2236703, С2, G 06 F 19/00, 20.09.2004].

Недостатком устройства является относительно узкие функциональные возможности, обусловленные тем, что, оно позволяет осуществлять обработку информации, но не позволяет моделировать и исследовать процесс определения состава обобщенных показателей качества информационных систем.

Требуемый технический результат заключается в расширении функциональных возможностей.

Требуемый технический результат достигается тем, что, в устройство, содержащее первый блок обработки данных, введены блок управления, блок памяти результатов измерений, группа входов которого соединена с группой выходов блока управления, регистр памяти результатов измерений, группа входов которого соединен с группой выходов блока памяти результатов измерений, управляющий вход - соединен с первым выходом блока управления, а группа выходов - соединена с группой входов первого блока обработки данных, регистр памяти нормированных значений признаков, группа входов которого соединена с группой выходов первого блока обработки данных, второй блок обработки данных, группа входов которого соединена с группой выходов регистра памяти нормированных значений признаков, и регистр памяти обобщенных признаков, группа входов которого соединена с группой выходов второго блока обработки данных, а управляющий вход - соединен с управляющим входом регистра памяти нормированных значений признаков и со вторым выходом блока управления.

На чертеже представлены: на фиг.1 - структурная схема устройства для определения состава показателей качества информационных систем, на фиг.2 - блока управления.

Устройство для определения состава показателей качества информационных систем (фиг.1) содержит блок 1 управления, блок 2 памяти результатов измерений, группа входов которого соединена с группой выходов блока 1 управления, регистр 3 памяти значений результатов измерений, группа входов которого соединен с группой выходов блока 2 памяти результатов измерений, а управляющий вход - соединен с первым выходом блока 1 управления, первый блок 4 обработки данных, группа входов которого соединена с группой выходов регистра 3 памяти результатов измерений, регистр 5 памяти нормированных значений признаков, группа входов которого соединена с группой выходов первого блока 4 обработки данных, второй блок 6 обработки данных, группа входов

которого соединена с группой выходов регистра 5 памяти нормированных значений признаков, и регистр 7 памяти обобщенных признаков, группа входов которого соединена с группой выходов второго блока 6 обработки данных, а управляющий вход - соединен с управляющим входом регистра 5 памяти нормированных значений признаков и со вторым выходом блока 1 управления.

Блок 1 управления (фиг.2) содержит генератор 8 тактовых импульсов (ГТИ), первый счетчик 9 импульсов, вход которого соединен с выходом генератора 8 тактовых импульсов и является первым выходом блока 1 управления, а также последовательно соединенные делитель 10 частоты импульсов, вход которого соединен с выходом генератора 8 тактовых импульсов, и второй счетчик 11 импульсов, группа информационных выходов которого образует с группой информационных выходов первого счетчика 9 импульсов и образует группу выходов блока 1 управления, а выход переполнения - соединен с входом останова ГТИ 8 и является вторым выходом блока 1 управления.

Блоки 2, 4, 6 и 7 могут быть выполнены в виде специализированных устройств вычислительной техники, а в частном случае - в виде программируемых постоянных запоминающих устройств (ПЗУ), в которых каждому из заданных кодов на входе соответствуют требуемые коды на выходе. Приведенный ниже пример работы устройства достаточен для их технической реализации (изготовления, программирования). Регистр 3 может быть выполнены в виде многоразрядного сдвигового регистра, а регистры 5 и 7 - в виде регистра памяти. ГТИ 8 и счетчики 9, 11 импульсов, а также делитель 10 частоты импульсов - являются стандартными элементами вычислительной техники.

Работает устройство для определения состава показателей качества информационных систем следующим образом.

Предварительно, для конкретной информационной системы обработки данных производятся статистические (экспериментальные) исследования. В

частности, берутся стандартные документы, которые подвергаются поэтапной обработке. На каждом этапе обработки фиксируются дефекты обработки которые подвергаются количественной оценке, например по величине или стоимости обнаружения и исправления дефекта. В результате формируется матрица Х - ведомость дефектов (значений результатов измерений), каждый элемент xij которой соответствует номеру строки i=1...n (шифру или коду дефекта) и номеру столбца j=1...m (шифру или коду показателя, например, времени обнаружения и исправления дефекта или стоимости обнаружения и исправления дефекта). Матрица Х значений результатов измерений записывается в блок 2 памяти.

Работа устройства начинается при запуске ГТИ 8 и обнулении первого 9 и второго 11 счетчиков и делителя 10 при его выполнении в виде счетчика, а также регистров 3, 5 и 7, например, по цепям питания, которые являются несущественными признаками в рамках данной заявки и на чертеже не показаны.

Первый 9 и второй 11 счетчики формируют на своем объединенном групповом выходе адреса ij элементов xij, которые вызываются из блока 2 и переписываются в регистр 3 памяти результатов измерений, образуя линейку элементов xij. Множество этих элементов подвергается обработке в первом блоке 4 обработки данных, в результате чего на его групповом выходе формируется множество элементов zij нормированной матрицы Z, которые записываются в регистр 5 памяти нормированных значений признаков. Каждый из нормированных значений признаков zij в первом блоке 1 формируется из элементов xij по следующему алгоритму:

Zij=(Xij-Xj)/CKOj,

где xj - среднее значение признака Xj для n дефектов (среднее по столбцу);

ckoj - среднее квадратическое отклонение признака.

Линейка элементов zij переписывается в регистр 5 по импульсу на выходе переполнения второго счетчика 11, например по переднему фронту импульса.

Элементы zij преобразуются во втором блоке 6 обработки данных в совокупность элементов dik по следующему алгоритму:

dik=sum j=l...m (Zij-Zkj),

где dik - квадрат евклидова расстояния меду дефектами i и k.

После формирования совокупности dik во втором блоке 6 обработки данных она переписывается в регистр 7, например по заднему фронту импульса с выхода переполнения второго счетчика 11, что необходимо для компенсации задержки сигнала во втором блоке 6 обработки данных.

По этому же импульсу происходит останов ГТИ 8 и окончание работы устройства.

Совокупность dik является исходной информацией для кластерного анализа при классификации показателей качества информационных систем.

Кластеры образуются по обобщенному признаку dik. В частном случае этой исходной совокупности достаточно для определения состава показателей качества.

В более общем случае возможно проведение итераций для объединения всех дефектов в один общий кластер., т.е. формирования ствола дерева классификации. Детальная дендрограмма итерационного процесса позволяет установить наиболее приемлемый состав классов и получить, таким образом, показатели качества информационной системы.

Таким, образом, в предложенном устройстве достигается требуемый технический результат, связанный с расширением функциональных возможностей, поскольку устройство позволяет не только осуществлять обработку информации, но и осуществлять моделирование и исследование процесса формирования состава показателей качества информационных систем.

Устройство для определения состава показателей качества информационных систем, содержащее первый блок обработки данных, отличающееся тем, что, введены блок управления, блок памяти результатов измерений, группа входов которого соединена с группой выходов блока управления, регистр памяти результатов измерений, группа входов которого соединен с группой выходов блока памяти результатов измерений, управляющий вход - соединен с первым выходом блока управления, а группа выходов - соединена с группой входов первого блока обработки данных, регистр памяти нормированных значений признаков, группа входов которого соединена с группой выходов первого блока обработки данных, второй блок обработки данных, группа входов которого соединена с группой выходов регистра памяти нормированных значений признаков, и регистр памяти обобщенных признаков, группа входов которого соединена с группой выходов второго блока обработки данных, а управляющий вход - соединен с управляющим входом регистра памяти нормированных значений признаков и со вторым выходом блока управления.



 

Похожие патенты:
Наверх