Дефектоскоп для нахождения внутренних дефектов фанеры

 

Дефектоскоп для нахождения внутренних дефектов фанеры, состоящий из ударного механизма, пьезодатчика, предварительного усилителя, отличающийся тем, что содержит устройство управления, аналого-цифровой преобразователь, запоминающее устройство, искусственную нейронную сеть, индикатор результатов анализа.



 

Похожие патенты:
Наверх