Устройство для измерения профиля поверхности объекта, содержащее основание, измерительную головку с источником и приемником излучения, электроприводы с блоками управления и электронный и вычислительный блоки, соединенные с измерительной головкой и блоками управления электроприводов, отличающееся тем, что оно содержит также установленный на основании двухкоординатный стол для перемещения объекта измерений по координатам X и Y, соединенный с электроприводами, и прикрепленный к основанию полупортал, в котором размещена измерительная головка, снабженная N приемниками излучения, расположенными по разные стороны от источника излучения, оптическая ось которого параллельна оси координат Z.
