PoleznayaModel.ru
Патентный поиск
Найти
Регистрация патентов
Патенты автора Каплан Бенцион Моисеевич (RU)
Устройство для измерения радиуса сферических полированных поверхностей
// 87793
Подписаться на новые патенты этого автора
Отправить сообщение автору патента
Я этот человек или организация