PoleznayaModel.ru
Патентный поиск
Найти
Регистрация патентов
Патенты автора Семиногов Владимир Николаевич (RU)
Спектроскопический рефрактометр-профилометр для измерения показателя преломления и толщины тонкопленочных структур
// 121590
Подписаться на новые патенты этого автора
Отправить сообщение автору патента
Я этот человек или организация