Патенты автора Мещеряков Вячеслав Викторович (RU)

Большепольный сканирующий нанотвердомер // 122177

Полезная модель относится к области сканирующей зондовой микроскопии и нанотвердометрии - технике контроля физико-механических свойств материалов и предназначена для исследования поверхности рельефа, измерения механических свойств объемных материалов и тонких пленок на субмикронном и нанометровом масштабе.

Сканирующий зондовый микроскоп-нанотвердомер, совмещенный с оптической системой линейных измерений // 96429

Сканирующий нанотвердомер // 96428

Подписаться на новые патенты этого автора

Отправить сообщение автору патента

Я этот человек или организация