Патенты автора Хмаров Игорь Михайлович (RU)

Установка для измерения отражательных характеристик материалов // 94699

Комплекс оптимизации параметров лазерных локационных систем // 94698

Установка для измерения лазерно-локационных характеристик объектов // 94697

Устройство для распознавания объектов по их трехмерным лазерным изображениям // 105043

Изобретение относится к устройствам распознавания образов, конкретно к устройствам распознавания объектов по их трехмерным лазерным изображениям. .

Подписаться на новые патенты этого автора

Отправить сообщение автору патента

Я этот человек или организация

Наверх