PoleznayaModel.ru
Патентный поиск
Найти
Регистрация патентов
Патенты автора Гончар Игорь Валерьевич (RU)
Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок
// 131148
Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок
// 120765
Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок
// 120490
Устройство для неразрушающего измерения толщины диэлектрических и полупроводниковых пленок
// 101812
Подписаться на новые патенты этого автора
Отправить сообщение автору патента
Я этот человек или организация