Патенты автора Бардынов Алмаз Фаритович (RU)

Информационно-измерительная система контроля толщины диэлектрических плёнок и плоских изделий // 149868

Полезная модель относится к информационно-измерительной технике и может быть использована для измерения толщины пленок и плоских изделий из диэлектрических материалов, в том числе полупроводниковых пластин и диэлектрических листов при автоматизации процессов их изготовления.

Подписаться на новые патенты этого автора

Отправить сообщение автору патента

Я этот человек или организация