Патенты автора Яковлева Валентина Дмитриевна (RU)

Полезная модель относится к измерительной технике, в частности, для измерения и контроля электрофизических параметров полупроводниковых структур, и может быть использована для измерения вольт-фарадных характеристик любых полупроводниковых структур.
Наверх