Патенты автора Шишкин Семен Русланович (RU)

Полезная модель относится к области измерительной техники и может быть использована для проведения испытаний полупроводниковых приборов и интегральных схем (ИС), применяемых для изготовления радиационно-стойкой полупроводниковой аппаратуры, например, космических аппаратов, АЭС, военной техники, на стойкость к воздействию ионизирующего излучения.
Наверх