Патенты автора Барановский Максим Владимирович (RU)

Устройство контроля качества полупроводниковых квантово-размерных гетероструктур // 117714

Подписаться на новые патенты этого автора

Отправить сообщение автору патента

Я этот человек или организация

Наверх