Испытание отдельных полупроводниковых приборов (G01R31/26)

G01 Измерение (счет G06M); испытание (8629)

G01R Измерение электрических и магнитных величин (измерение физических величин любого вида путем преобразования их в электрические величины см. примечание 4 к кл. G01; измерение диффузии ионов в электрическом поле, например электрофорез, электроосмос G01N; исследование неэлектрических и немагнитных свойств материалов с помощью электрических и магнитных методов G01N; индикация точности настройки резонансных контуров H03J3/12; контроль электрических счетчиков H03K21/40; контроль работы системы связи H04) (968)

G01R31 Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах (измерительные провода, измерительные зонды G01R1/06; индикация электрических режимов в распределительных устройствах или в защитной аппаратуре H01H71/04,H01H73/12, H02B11/10,H02H3/04; испытание или измерение полупроводниковых или твердотельных приборов в процессе их изготовления H01L21/66; испытание линий передачи энергии H04B3/46) (313)

G01R31/26 Испытание отдельных полупроводниковых приборов (измерение содержания примесей G01N)(13)

Установка для контроля параметров фотоэлектрических преобразователей // 150172

Устройство для измерения распределения удельного сопротивления в полупроводниковых материалах // 145584

Испытательный модуль для оценки стойкости полупроводниковой элементной базы малошумящих усилителей свч диапазона к воздействию импульсных помех большой амплитуды // 134667

Устройство для измерения емкости и проводимости мдп-структур в области инфранизких частот // 127942

Устройство ускоренного контроля теплового сопротивления силовых полупроводниковых приборов таблеточной конструкции // 121374

Полезная модель относится к области электротехники, а именно к силовым полупроводниковым преобразователям и конкретно к силовыми полупроводниковым приборам (СПП) - тиристорам и диодам таблеточной конструкции.

Структура для аттестации четырехзондовых головок // 121084

Устройство нагрева силовых полупроводниковых приборов // 115502

Устройство для измерения концентрации носителей заряда в полупроводниковых материалах // 103933

Устройство нагрева силовых полупроводниковых приборов // 100288

Установка автоматизированного измерения параметров мультиспектральных матричных фотоприемных устройств // 94720

Устройство нагрева силовых полупроводниковых приборов // 88813

Устройство бесконтактного контроля технического состояния и режимов работы электроустановок // 68136

Устройство нагрева силовых полупроводниковых приборов // 55993

2548534.