PoleznayaModel.ru
Патентный поиск
Найти
Регистрация патентов
Патенты автора Вознин Максим Павлович (RU)
Система измерения характеристик оптоэлектронных устройств
// 115478
Подписаться на новые патенты этого автора
Отправить сообщение автору патента
Я этот человек или организация